CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS

Camtek光学检测系统

CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备  

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 MEMS

公司概述

Camtek是一个开发商和制造商的半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是的半导体市场,包括互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业的IDMs OSATs和铸造厂。

性能：Camtek检验和计量系统可以在量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的。先进的包装技术的增长,已被证明是有效的解决方案,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求帮助他们满足严格的要求产品以及支持需求增长。

创新：Camtek使得它的检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决,已成为许多应用的行业。 灵活性与易操作和可靠性,为客户提供的。

响应性：在每一个领域是的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的的服务我们的客户。

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 MEMS

Camtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。

我们*特的灵活平台支持MEMS产业广泛。
各种处理配置和发展可以支持各种晶片大小和类型。

功能

•整片2 d检查和计量
•表面相关缺陷检查
•各种处理解决方案(晶圆和更多)
•高分辨率的2 d和3 d测量
•多个照明配置各种功能的检查
•灵活的检测环境定制的应用程序

技术

•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器

产品

 代进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是快的和精确的2 d检查工具在市场上。

主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等；