Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪 粗糙度测量的精简而经济的台式

三维光学显微镜

布鲁克作为三维表面测量，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有Wyko®专有技术基础上，不断积累创新，来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性；而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。

布鲁克三维光学显微系统在一直以。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间，数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为先进质量控制和研发设计的测量仪器，可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空**、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域，布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

粗糙度测量的精简而经济的台式

ContourX-100光学轮廓仪以。小尺寸系统采用流线型封装，可提供**的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。

ContourX-100 3D光学轮廓仪

轮廓GT-K

ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。

轮廓X-100

WLI为所有目标提供恒定的垂直分辨率。

轮廓X-100

ContourX-100手动平台。

ContourX-100台式机具有成的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合，可提供对高通量光学性能的简化访问，完全追赶了同类计量技术。